Статистика

Общее число посещений

Просмотры
Spectral Ellipsometry and Electron Backscatter Diffraction Analyses of Silicon Surfaces Implanted with Silver Ions 138

Посещений за месяц

Февраль 2025 Март 2025 Апрель 2025 Май 2025 Июнь 2025 Июль 2025 Август 2025
Spectral Ellipsometry and Electron Backscatter Diffraction Analyses of Silicon Surfaces Implanted with Silver Ions 5 15 6 2 1 0 4

Обращения к файлам

Просмотры
SCOPUS00219037-2016-83-1-SID84961201423-a1.pdf 22

по странам

Просмотры
Россия 76

по городам

Просмотры
Kazan 76

Поиск в электронном архиве


Расширенный поиск

Просмотр

Моя учетная запись

Статистика