Статистика

Общее число посещений

Просмотры
Spectral Ellipsometry and Electron Backscatter Diffraction Analyses of Silicon Surfaces Implanted with Silver Ions 111

Посещений за месяц

Сентябрь 2024 Октябрь 2024 Ноябрь 2024 Декабрь 2024 Январь 2025 Февраль 2025 Март 2025
Spectral Ellipsometry and Electron Backscatter Diffraction Analyses of Silicon Surfaces Implanted with Silver Ions 2 2 1 2 6 5 1

Обращения к файлам

Просмотры
SCOPUS00219037-2016-83-1-SID84961201423-a1.pdf 20

по странам

Просмотры
Россия 76

по городам

Просмотры
Kazan 76

Поиск в электронном архиве


Расширенный поиск

Просмотр

Моя учетная запись

Статистика