Abstract:
Предлагается эффективный метод выявления структурных дефектов
фотонных кристаллов, который можно использовать для
совершенствования различных процессов синтеза образцов.
Исследуются структурные характеристики фотонных кристаллов на
основе полистирольных микросфер методами спектрофотометрии и
атомно-силовой микроскопии.