АЛГОРИТМ ДЛЯ АНАЛИЗА АСМ-ИЗОБРАЖЕНИЙ ПОВЕРХНОСТЕЙ СО СЛОЖНОЙ МОРФОЛОГИЕЙ // Ученые записки КФУ. Физико-математические науки 2008 N2

Abstract

В работе предлагается новый алгоритм для анализа изображений нанообъектов, полученных методами сканирующей зондовой микроскопии. Алгоритм учитывает наличие на поверхности крупномасштабных неровностей и слипшихся объектов. Его работоспособность проверена на специально смоделированных изображениях наночастиц. Одно из возможных применений предложенного алгоритм заключается в анализе поверхности каталитически активных систем, состоящих из наночастиц металлов.