Аннотации:
Исследована зависимость ширины фотонной запрещенной зоны от угла падения света, от
оптической плотности материалов фотонного кристалла и от толщин слоев фотонно-
кристаллической структуры. Была выведена трансцендентная функция дисперсионных
соотношений методом матриц распространения. Также были построены дисперсионные
соотношения в фотонно-кристаллических структурах "диоксид кремния - вакуум" и
"ниобат лития - вакуум". Показана возможность управления шириной запрещенной зоны
посредством изменения параметров фотонно-кристаллической структуры.