Probing Wave Functions of Electrically Active Shallow Level Defects by Means of High-Frequency Pulsed ENDOR in Wide Bandgap Materials: SiC, AlN, ZnO, and AgCl
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
This item appears in the following Collection(s)
Публикации сотрудников КФУ Scopus [24551] Коллекция содержит публикации сотрудников Казанского федерального (до 2010 года Казанского государственного) университета, проиндексированные в БД Scopus, начиная с 1970г.