Электронный архив

Probing Wave Functions of Electrically Active Shallow Level Defects by Means of High-Frequency Pulsed ENDOR in Wide Bandgap Materials: SiC, AlN, ZnO, and AgCl

Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

  • Публикации сотрудников КФУ Scopus [24551]
    Коллекция содержит публикации сотрудников Казанского федерального (до 2010 года Казанского государственного) университета, проиндексированные в БД Scopus, начиная с 1970г.

Поиск в электронном архиве


Расширенный поиск

Просмотр

Моя учетная запись

Статистика