О СИНТЕЗЕ ЛЕГКОТЕСТИРУЕМЫХ СХЕМ  И ОБ ОЦЕНКАХ ДЛИНЫ
ТЕСТОВ
                             // Ученые записки КФУ. Физико-математические науки 2009 N2

Редькин Николай Петрович

dc.contributor.author	Редькин Николай Петрович
dc.date.accessioned	2015-07-03T11:57:40Z
dc.date.available	2015-07-03T11:57:40Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.issn	1815-6088
dc.identifier.uri	http://dspace.kpfu.ru/xmlui/handle/net/27200
dc.description.abstract	В статье рассматриваются единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов при инверсных неисправностях на выходах элементов, проверяющие тесты для схем в случае однотипных константных неисправностей на выходах элементов, единичные диагностические тесты для схем в бесконечном базисе, минимальные тесты для схем, реализующих дизъюнкцию. Приводятся новые оценки длины этих тестов. Эти оценки в ряде случаев являются неулучшаемыми.
dc.publisher	Казанский государственный университет
dc.relation.ispartofseries	Ученые записки КФУ. Физико-математические науки
dc.title	О СИНТЕЗЕ ЛЕГКОТЕСТИРУЕМЫХ СХЕМ И ОБ ОЦЕНКАХ ДЛИНЫ ТЕСТОВ // Ученые записки КФУ. Физико-математические науки 2009 N2
dc.type	Article
dc.relation.ispartofseries-issue	2
dc.collection	Публикации сотрудников КФУ
dc.relation.startpage	133
dc.source.id	ELIB18156088-2009-2-17