Электронный архив

Simulation of the nanoscale interconnects within a spin-resolved electron transport model

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Useinov A.
dc.contributor.author Lin H.H.
dc.contributor.author Useinov N.
dc.contributor.author Tagirov L.
dc.date.accessioned 2021-02-25T06:54:43Z
dc.date.available 2021-02-25T06:54:43Z
dc.date.issued 2020
dc.identifier.uri https://dspace.kpfu.ru/xmlui/handle/net/161471
dc.description.abstract © 2020 IEEE. The work represents the theoretical modeling of the electrical conductance in the nanoscale interconnects within approach of the extended point-like contact (PC) model. The approach describes a diffusive, quasi-ballistic, ballistic and quantum regimes of the spinresolved conductance, that is important for the development of the heterojunction models, including 2D -3D interconnects. As a benefit, the model provides a unified description of the contact resistance from Maxwell diffusive through the ballistic to a purely quantum transport regimes without residual terms. The model of the PC assumes that the contact area can be replaced by a complex quantum device, e.g. single tunnel junction, narrow magnetic domain wall (DW), vacuum gap between tip and surface, source to drain transistor's channel, etc. The potential energy landscape of the device determines its electrical properties.
dc.title Simulation of the nanoscale interconnects within a spin-resolved electron transport model
dc.type Conference Paper
dc.collection Публикации сотрудников КФУ
dc.relation.startpage 72
dc.source.id SCOPUS-2020-SID85093670337


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

  • Публикации сотрудников КФУ Scopus [24551]
    Коллекция содержит публикации сотрудников Казанского федерального (до 2010 года Казанского государственного) университета, проиндексированные в БД Scopus, начиная с 1970г.

Показать сокращенную информацию

Поиск в электронном архиве


Расширенный поиск

Просмотр

Моя учетная запись

Статистика