Comprehensive Test Procedure for Digital Instruments and Devices of Automated Versatile Systems

Khizbullin R.N.; Fandeyev V.P.; Pavlov P.P.; Cherepen'Kin I.V.; Khusnutdinova E.M.; Khusnutdinov A.N.

Comprehensive Test Procedure for Digital Instruments and Devices of Automated Versatile Systems

Khusnutdinova E.M.; Pavlov P.P.; Fandeyev V.P.; Khizbullin R.N.; Khusnutdinov A.N.; Cherepen'Kin I.V.

URI: https://dspace.kpfu.ru/xmlui/handle/net/161356

Дата: 2020

Аннотации:

© 2020 IOP Publishing Ltd. All rights reserved. The authors present a comprehensive test procedure for digital devices, based on the calculation and control of two or more characteristics of a binary signal at a control point. The procedure is aimed at how to increase the reliability of performance monitoring and localization of the failure of digital devices as part of automated versatile systems.

Показать полную информацию

Файлы в этом документе

Имя: SCOPUS17578981-20 ...

Размер: 46.89Kb

Формат: PDF

Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции

Публикации сотрудников КФУ Scopus [24551]
Коллекция содержит публикации сотрудников Казанского федерального (до 2010 года Казанского государственного) университета, проиндексированные в БД Scopus, начиная с 1970г.