Мёссбауэровский метод измерения субангстремных смещений тонких пленок

Abstract

Приведены первые результаты измерений распределения амплитуды колебаний тонкой пластины вдоль ее поверхности с использованием мессбауэровской спектроскопии. Для измерений применялось гамма-излучение Со с длиной волны 86 пм (0.86 А). Фольга нержавеющей стали толщиной 25 мкм была использована в качестве исследуемого образца. Колебания образца вдоль направления распространения гамма-излучения возбуждались с помощью полимерного пьезопреобразователя. При умеренных значениях подаваемого напряжения измеренная амплитуда колебаний не превышала 50 пм. Точность измерений распределения амплитуды колебаний фольги вдоль ее поверхности составила 3-г бпм. Этот метод предлагается использовать для создания стандартов механических смещений, которые могут быть применены для калибровки туннельных микроскопов.