Электронный архив

An approach to design-for-testability automation of analogue integrated circuits using OBIST strategy

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Mosin S.
dc.date.accessioned 2018-09-19T22:56:18Z
dc.date.available 2018-09-19T22:56:18Z
dc.date.issued 2016
dc.identifier.uri https://dspace.kpfu.ru/xmlui/handle/net/145793
dc.description.abstract © 2016 IEEE.This paper is mainly focused on the task of design-for-testability (DFT) automation with emphasis on OBIST strategy for analog integrated circuits. The design procedures according to DFT flow are proposed. Three possible structural solutions for reconfiguration of original circuit into oscillator are considered. The set of rules for each solution is prepared as the formal procedures, which can support the automation during DFT flow. The experimental results for three cases demonstrate adequacy of oscillation frequency for revealing catastrophic and parametric faults.
dc.subject analog circuits
dc.subject design automation
dc.subject design-for-testability flow
dc.subject oscillation-BIST
dc.subject Reconfiguration circuitry
dc.title An approach to design-for-testability automation of analogue integrated circuits using OBIST strategy
dc.type Conference Paper
dc.collection Публикации сотрудников КФУ
dc.relation.startpage 211
dc.source.id SCOPUS-2016-SID84994102640


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

  • Публикации сотрудников КФУ Scopus [24551]
    Коллекция содержит публикации сотрудников Казанского федерального (до 2010 года Казанского государственного) университета, проиндексированные в БД Scopus, начиная с 1970г.

Показать сокращенную информацию

Поиск в электронном архиве


Расширенный поиск

Просмотр

Моя учетная запись

Статистика