Электронный архив

A new approach of recognition of ellipsoidal micro- and nanoparticles on AFM images and determination of their sizes

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Akhmadeev A.
dc.contributor.author Kh Salakhov M.
dc.date.accessioned 2018-09-19T20:42:37Z
dc.date.available 2018-09-19T20:42:37Z
dc.date.issued 2016
dc.identifier.issn 0957-0233
dc.identifier.uri https://dspace.kpfu.ru/xmlui/handle/net/143161
dc.description.abstract © 2016 IOP Publishing Ltd.In this work we develop an approach of automatic recognition of ellipsoidal particles on the atomic force microscopy (AFM) image and determination of their size, which is based on image segmentation and the surface approximation by ellipsoids. In addition to the comparative simplicity and rapidity of processing, this method allows us to determine the size of particles, the surface of which is not completely visible on the image. The proposed method showed good results on simulated images including noisy ones. Using this algorithm the size distributions of silica particles on experimental AFM images have been determined.
dc.relation.ispartofseries Measurement Science and Technology
dc.subject atomic force microscopy
dc.subject image segmentation
dc.subject particle detection
dc.subject size determination
dc.title A new approach of recognition of ellipsoidal micro- and nanoparticles on AFM images and determination of their sizes
dc.type Article
dc.relation.ispartofseries-issue 10
dc.relation.ispartofseries-volume 27
dc.collection Публикации сотрудников КФУ
dc.source.id SCOPUS09570233-2016-27-10-SID84989889823


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

  • Публикации сотрудников КФУ Scopus [24551]
    Коллекция содержит публикации сотрудников Казанского федерального (до 2010 года Казанского государственного) университета, проиндексированные в БД Scopus, начиная с 1970г.

Показать сокращенную информацию

Поиск в электронном архиве


Расширенный поиск

Просмотр

Моя учетная запись

Статистика