Электронный архив

Raman spectra observation of silver nanoparticles in porous silicon fabricated by ion implantation

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Kurbatova N.
dc.contributor.author Galyautdinov M.
dc.contributor.author Nuzhdin V.
dc.contributor.author Valeev V.
dc.contributor.author Osin Y.
dc.contributor.author Stepanov A.
dc.date.accessioned 2018-09-18T20:34:23Z
dc.date.available 2018-09-18T20:34:23Z
dc.date.issued 2015
dc.identifier.issn 1995-0780
dc.identifier.uri https://dspace.kpfu.ru/xmlui/handle/net/141267
dc.description.abstract © 2015, Pleiades Publishing, Ltd. Porous silicon layers fabricated by the low-energy high-dose Ag<sup>+</sup>-ion implantation of crystalline silicon with doses from 7.5 × 10<sup>16</sup> to 1.5 × 10<sup>17</sup> ion/cm<sup>2</sup> are studied by Raman spectroscopy. Pores with sizes from ∼100–180 nm formed on irradiated silicon surface are controlled by scanning electron microcopy. Synthesized silver nanoparticles are observed in the structure of porous silicon. The sizes of pour and nanoparticles are increased with an increase in implantation dose. Acoustic vibrations generated by laser irradiation in silver nanoparticles of various sizes are registered by low-temperature Raman spectra of composite material.
dc.relation.ispartofseries Nanotechnologies in Russia
dc.title Raman spectra observation of silver nanoparticles in porous silicon fabricated by ion implantation
dc.type Article
dc.relation.ispartofseries-issue 3-4
dc.relation.ispartofseries-volume 10
dc.collection Публикации сотрудников КФУ
dc.relation.startpage 231
dc.source.id SCOPUS19950780-2015-10-3-4-SID84928797254


Файлы в этом документе

Данный элемент включен в следующие коллекции

  • Публикации сотрудников КФУ Scopus [24551]
    Коллекция содержит публикации сотрудников Казанского федерального (до 2010 года Казанского государственного) университета, проиндексированные в БД Scopus, начиная с 1970г.

Показать сокращенную информацию

Поиск в электронном архиве


Расширенный поиск

Просмотр

Моя учетная запись

Статистика